Patent:US4074850
Patent: | US 4074850 |
Titel: | X-ray computer |
Datum: | 21.02.1978 |
Ort: | Elkhart, Ind. |
Land: | USA |
Person: | Brice L. Kratzer |
Firma: | |
Links im Rechnerlexikon: | |
Schlagworte: | |
Link zum Patentamt: (ohne Garantie) | US4074850 (espacenet), US4074850 (uspto) |
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