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Patent:US2185767

Patent:	US 2185767
Titel:	Measuring and Integrating Device
Datum:	02.01.1940
Ort:
Land:	USA
Person:	E. S. Jefferies
Firma:
Links im Rechnerlexikon:	Planimeter
Schlagworte:
Link zum Patentamt: (ohne Garantie)	US2185767 (espacenet),  US2185767 (uspto)

Aus der Patentschrift US2185767

• DATUM: 02.01.1940
• TITEL: Measuring and integrating device