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Patent:US752470
| Patent: | US 752470 |
| Titel: | Measuring Instrument |
| Datum: | 16.02.1904 |
| Ort: | |
| Land: | USA |
| Person: | R. Schierbeck |
| Firma: | |
| Links im Rechnerlexikon: | Planimeter, Schneidenplanimeter |
| Schlagworte: | |
| Link zum Patentamt: (ohne Garantie) |  US752470 (espacenet), US752470 (uspto) |
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